將同軸照明與亮場照明進行比較,也會產(chǎn)生截然不同的結(jié)果。圖2顯示了使用亮場照明與同軸照明的鍍鉻玻璃凸形USAF 1951的對比度目標(biāo)。
這兩種照明最直接的差別在于兩張圖像的對比度全相反。此外,目標(biāo)中的缺陷在亮場圖像中更加明顯,這可能會產(chǎn)生有利或不利的影響,具體取決于應(yīng)用。有趣的是,目標(biāo)的高反射性質(zhì)使同軸照明圖像產(chǎn)生比亮場照明圖像高出約10%的對比度 - 下文將解釋其原因。
在考慮使用同軸照明時,務(wù)必確切了解其適用和不適用的場合。由于照明路徑上的光線的性質(zhì),同軸照明特別適合用于檢測鏡面或半鏡面物體,如半導(dǎo)體晶片或CCD。使用兩個不同的遠(yuǎn)心鏡頭(一個使用同軸照明,另一個不使用同軸照明)時,相同CCD的圖像會呈現(xiàn)出亮場照明(使用環(huán)形燈)和同軸照明之間的差別。圖3中顯示了圖像。
同軸照明是觀察CCD邊緣電線的更佳選擇,因為電線與CCD其余部分之間的對比度更高、更均勻。如圖4所示,圖3(使用亮場照明)中的電線看起來更亮,使用同軸照明的圖像看起來更暗,這是由照明的光線路徑造成的。使用亮場照明時,光線會散射到鏡頭內(nèi);而使用同軸照明時,光線會散射到鏡頭外。
使用亮場照明時,從環(huán)形燈產(chǎn)生的光線會被物體反射到鏡頭中。反射會根據(jù)環(huán)形燈中個別光源的角度以及電線自身相對于CCD表面和焊接材料的角度而變化,正因為如此,不同電線長度上的反射的像素值不一致。使用同軸照明時,所有光線都會被物體反射,并散射到鏡頭外,因此碰觸到電線的光都不會反射回鏡頭中和傳感器上。同軸照明背景的對比度更均勻,而且電線的對比度更強,這使其成為觀察電線的更好選擇(相較于亮場照明)。
如果要觀察CCD護罩玻璃上的亮點或裂邊,同軸照明也是更具優(yōu)勢的選擇,因為整個圖像的對比度更加均勻。使用同軸照明顯示的暗淡裂邊(由圖4所示的散射光造成)在雜亂的CCD背景下顯示的對比度要比使用亮場照明形成的高對比度圖像(如圖3所示)高得多。
由于同軸照明具備諸多優(yōu)勢,因此通常被認(rèn)為始終是空間有限的系統(tǒng)的選擇。遺憾的是,對于具有光學(xué)漫射性或需要大視場的物體來說,它并不是最佳解決方案。在與漫射物體配合使用時,同軸照明會在圖像上產(chǎn)生熱點,該熱點是由物體的朗伯(Lambertian,一個幾乎不變的雙向反射分布函數(shù))趨勢造成的,它對任何檢測系統(tǒng)都是有害的。圖5顯示了使用(右圖)和不使用(左圖)同軸照明時木制材料漫射物體的圖像。
圖4: 使用亮場照明(左)和同軸照明(右)的光線路徑的比較。
當(dāng)朗伯型物體采用同軸照明時,圖像在視場中心具有定義明確的熱點。此熱點可有效沖刷出所需的對比度,為亮場圖像產(chǎn)生約70%的對比度,為同軸照明圖像產(chǎn)生約8%的對比度,這兩個對比度值均取自圖像中心。
當(dāng)然,在一些其他情況下,同軸照明并非理想之選。需要大視場時,照明系統(tǒng)的光學(xué)擴展量會成為問題,因為在大視場內(nèi)展開光通量本身會導(dǎo)致密度低得多的光子束,因此會對整個系統(tǒng)的光通量產(chǎn)生負(fù)面影響。光源還會對具有大視場的同軸照明系統(tǒng)的性能產(chǎn)生顯著的負(fù)面影響,因為經(jīng)過物體平面的大投射,小瑕疵會被放大。
內(nèi)置照明是觀察 CCD 邊緣電線的更佳選擇,因為電線與 CCD 其余部分之間的對比度更高、更均勻。如圖 2 所示,圖 1(使用明視場照明)中的電線看起來更亮,使用內(nèi)置照明的圖像看起來更暗,這是由照明的光線路徑造成的。使用明視場照明時,光線會散射到鏡頭內(nèi);而使用內(nèi)置照明時,光線會散射到鏡頭外。
圖5: 使用亮場照明(左)和同軸照明(右)的木制物體的比較。
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